我們(men)以(yi)連續工作制(zhi)（S1工作制(zhi)）電機(ji)(ji)作為介紹對(dui)象，由(you)于(yu)電機(ji)(ji)隔爆(bao)(bao)外(wai)(wai)殼(ke)能承受通過外(wai)(wai)殼(ke)任(ren)何接合(he)面(mian)(mian)(mian)(mian)或結構間隙滲透到外(wai)(wai)殼(ke)內(nei)(nei)部(bu)的(de)(de)可燃(ran)性(xing)混(hun)合(he)物在(zai)內(nei)(nei)部(bu)爆(bao)(bao)炸(zha)而不(bu)(bu)損壞(huai)，而且不(bu)(bu)會(hui)引(yin)起(qi)外(wai)(wai)部(bu) 的(de)(de)爆(bao)(bao)炸(zha)性(xing)氣體混(hun)合(he)物的(de)(de)點(dian)燃(ran)危險，所以(yi)該類(lei)型電機(ji)(ji)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)溫度測試(shi)位(wei)置局限在(zai)電機(ji)(ji)機(ji)(ji)座外(wai)(wai)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)及軸承外(wai)(wai)圈處。而其他防(fang)爆(bao)(bao)類(lei)型電機(ji)(ji)，如(ru)增(zeng)安型或無火花型電機(ji)(ji)外(wai)(wai)殼(ke)不(bu)(bu)具備(bei)隔爆(bao)(bao)外(wai)(wai)殼(ke)的(de)(de)保護 特 性(xing)，其最高(gao)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)溫度測試(shi)位(wei)置還應增(zeng)加電機(ji)(ji)轉(zhuan)(zhuan)子(zi)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)的(de)(de)測試(shi)。通常情況下，由(you)于(yu)電機(ji)(ji)內(nei)(nei)外(wai)(wai)導熱和散熱性(xing)能的(de)(de)差異，轉(zhuan)(zhuan)子(zi)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)溫度明顯(xian)高(gao)于(yu)機(ji)(ji)座外(wai)(wai)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)溫度，因此，這兩種防(fang)爆(bao)(bao)類(lei)型的(de)(de)電 機(ji)(ji)最高(gao)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)溫度主要取決于(yu)轉(zhuan)(zhuan)子(zi)表(biao)(biao)(biao)面(mian)(mian)(mian)(mian)溫度。

   我們經常選用(yong)的(de)(de)(de)電(dian)機溫(wen)度(du)(du)(du)測(ce)(ce)量方(fang)(fang)法主要有如(ru)下四(si)種：①溫(wen)度(du)(du)(du)計法；②電(dian)阻法；③埋置(zhi)檢溫(wen)計法；④粘貼測(ce)(ce)溫(wen)紙法。這里所(suo)介紹(shao)的(de)(de)(de)溫(wen)度(du)(du)(du)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)采(cai)用(yong)上述(shu)第(di)一(yi)種方(fang)(fang)法，溫(wen)度(du)(du)(du)傳感(gan)器為實驗(yan)室較 容易制作(zuo)、價(jia)格低(di)、校準方(fang)(fang)便的(de)(de)(de)銅(tong)-康銅(tong)熱電(dian)偶，該熱點(dian)(dian)偶分度(du)(du)(du)號為T型，測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)溫(wen)度(du)(du)(du)范圍(wei)在(zai)－ 200～400 ℃之(zhi)間。它(ta)可(ke)把溫(wen)度(du)(du)(du)信號直(zhi)接(jie)變(bian)成按(an)一(yi)定(ding)規律變(bian)換(huan)的(de)(de)(de)弱電(dian)壓信號，通過一(yi)塊(kuai)或(huo)(huo)兩(liang)塊(kuai)A/D轉(zhuan)換(huan)卡，與PC機直(zhi)接(jie)相連，使用(yong)專門配(pei)套溫(wen)度(du)(du)(du)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)軟件，即可(ke)同(tong)時測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)8點(dian)(dian)或(huo)(huo)16點(dian)(dian)不同(tong) 位置(zhi)的(de)(de)(de)溫(wen)度(du)(du)(du)，并(bing)在(zai)微機顯(xian)示(shi)器上直(zhi)接(jie)顯(xian)示(shi)所(suo)有測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)點(dian)(dian)當前和歷(li)史(shi)記錄的(de)(de)(de)溫(wen)度(du)(du)(du)數(shu)值或(huo)(huo)溫(wen)度(du)(du)(du)曲線(xian)(xian)。該A/D轉(zhuan)換(huan)卡為智能ISA總線(xian)(xian)，具有光耦隔離、抗干擾能力強、精度(du)(du)(du)高(gao)（±0.05%） 可(ke)靠性(xing)高(gao)等特點(dian)(dian)。由(you)于(yu)溫(wen)度(du)(du)(du)場(chang)和溫(wen)度(du)(du)(du)傳感(gan)器的(de)(de)(de)熱慣性(xing)較大，因此，采(cai)集轉(zhuan)換(huan)一(yi)組數(shu)據(ju)最小間隔設(she)置(zhi)為3 s即可(ke)滿足大多數(shu)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)要求(qiu)，對于(yu)電(dian)機溫(wen)度(du)(du)(du)試(shi)(shi)(shi)驗(yan)也(ye)是適用(yong)的(de)(de)(de)。